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![[!] 測量 dk/df值 與面材在 RFID等應用端上的需求 | JOURNALs by C&T中泰紙業有限公司](https://static.wixstatic.com/media/2e8b3d_dceb72de9d1e45ff82eb5895ef4581e4~mv2.png/v1/fill/w_569,h_250,fp_0.50_0.50,lg_1,q_35,blur_30,enc_avif,quality_auto/2e8b3d_dceb72de9d1e45ff82eb5895ef4581e4~mv2.webp)
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[!] 測量 dk/df值 與面材在 RFID等應用端上的需求 | JOURNALs by C&T中泰紙業有限公司
DK/DF測量是用於確定材料的介電常數(DK)和耗散係數(DF)的過程。 DK是衡量材料在電場中儲存電能的能力,而DF是衡量材料作為熱耗散電能的能力的衡量標準 (Arumugam & Harikrishnan, 2017). 在電子工程領域,準確的DK/DF測量對電子裝置和系統的設計和製造至關重要(Norton,2018)。 這些引數會影響電容器、絕緣子和傳輸線等電子元件的效能。 同樣,在通訊系統中,這些引數會影響訊號的傳輸和接收 (Li et al., 2017). 在標籤製作行業,DK/DF測量對射頻識別(RFID)標籤的設計和生產尤為重要。 RFID標籤廣泛用於標籤製作行業,用於庫存管理、供應鏈效率和產品安全 (Zhao et al., 2018). 標籤天線的諧振頻率對於RFID標籤應用中的高效操作和最大讀取範圍非常重要。 標籤面材、粘合劑和襯裡介電常數和耗散係數會顯著影響標籤天線的諧振頻率。 因此,準確的DK/DF測量對於選擇正確的材料和最佳化標記天線設計至關重要 (Hsu et al., 2019). 如果沒有準確的DK/DF測量,標

Gilbert W.
2023年4月12日讀畢需時 3 分鐘
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